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AFM-SEM 同步聯用技術（通用版）SEM 與 AFM 是亞納米級樣品分析中應用廣泛且互補的兩大技術。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優(yōu)勢，實現超高效工作流程， 完成傳統 AFM 和 SEM 難以或無法實現的極限性能和復雜樣品分析。

全新發(fā)布的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢，實現了在同一系統中對樣品進行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學）關聯分析。

Phenom MAPS 大面積能譜拼接作為一款多模態(tài)多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件，可自動獲取大型圖像數據集，并直觀地組合和關聯多種成像、分析模式，從而提供多尺度和多模態(tài)的表征數據。

飛納電鏡彩色成像技術ChemiSEM，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實時疊加，在成像同時提供高質量的成分定性定量信息。

飛納電鏡全景拼圖【新品】 全新界面，一鍵掃描更便捷 掃描“形狀”自定義 大樣品全景觀測 高清圖像無錯位